発光減衰曲線の解析によるSiO_2の微視的構造の乱雑さの評価
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概要
著者
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大木 義路
早稲田大学 先進理工学研究科 電気・情報生命専攻
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大木 義路
早稲田大学
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薛 光洙
早稲田大学
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石井 啓介
早稲田大学
-
西川 宏之
芝浦工大 工
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西川 宏之
東京都立大学工学部
-
西川 宏之
東京都立大学
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