石井 啓介 | 早稲田大学

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概要

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関連著者

• 石井 啓介

  早稲田大学

• 大木 義路

  早稲田大学　先進理工学研究科　電気・情報生命専攻

• 大木 義路

  早稲田大学

• 薛 光洙

  早稲田大学

• 西川 宏之

  芝浦工大 工

• 西川 宏之

  東京都立大学工学部

• 西川 宏之

  東京都立大学

• 加藤 宙光

  産業技術総合研究所

• 加藤 宙光

  早稲田大

• 加藤 宙光

  産総研エネルギー技術

• 加藤 宙光

  早稲田大学

• 高見 明宏

  早稲田大学

• 酒井 真吾

  早稲田大学

• 加藤 宙光

  (独)産業技術総合研究所エネルギー技術研究部門:CREST c/o 産総研

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著作論文

• 発光減衰曲線の解析によるSiO2の微視的構造の乱雑さの評価 (特集:いま若手は何をめざしているのか?)
• プラズマ重合エチレン薄膜の光伝導特性
• プラズマ重合エチレンおよびフッ素含有エチレン薄膜の絶縁破壊機構 (固体絶縁体の電気伝導と絶縁破壊)
• プラズマCVD堆積SiO_2薄膜の絶縁破壊電界におよぼす フッ素添加の効果
• 発光減衰曲線の解析によるSiO_2の微視的構造の乱雑さの評価
• シリコン酸化膜中の点欠陥の新しい検出法

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