自動車用Al-Mg-Si合金の酸化挙動
スポンサーリンク
概要
著者
-
水野 薫
島根大理工
-
水野 薫
新日本製鐵(株) 先端技術研究所
-
水野 薫
新日本製鐵(株)
-
水野 薫
新日本製鉄先端技術研究所
-
NYLUND Anders
チャルマース工科大学金属工学科
-
OLEFJORD Ingemar
チャルマース工科大学金属工学科
関連論文
- 23aHS-9 X線断層トポグラフィによる水晶中の欠陥の三次元可視化II(23aHS 格子欠陥・ナノ構造(シミュレーション,転位,点欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28aYA-5 X線屈折コントラスト法によるチタン水素化物中の水素の拡散係数の決定(28aYA 格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- X線屈折コントラスト法によるTiおよびTiAl合金中の水素化物の可視化
- 25aYM-8 X線屈折コントラスト法によるチタン中の水素化物の観察II(格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 17aTG-4 高平行度X線を用いたチタン中の水素化物の直接観察
- 24aYL-2 β'-(BEDT-TTF)_2ICl_2の大型単結晶育成とその評価(ET-ICl_2, 超高圧力等,領域7(分子性固体・有機導体))
- 24aYL-2 β'-(BEDT-TTF)_2ICl_2の大型単結晶育成とその評価(ET-ICl_2, 超高圧力等,領域7(分子性固体・有機導体))
- 5a-YG-10 高完全度Al単結晶における原子空孔型転位ループの焼鈍時間依存
- 高完全度Al単結晶中の高温において生成した原子空孔型転位ループ : 基礎(実験)III
- 14a-DK-7 高完全度Al単結晶中の原子空孔型転位ループ
- 28a-H-11 Al単結晶における熱サイクルの焼鈍の効果
- 固体表面分析
- 自動車用アルミニウム合金の表面解析 (解析科学小特集)
- GDOSによるアルミニウム合金表面の元素分析
- 色彩色差計によるアルミニウム合金表面MgO酸化膜厚の簡易測定法
- 24aYF-8 ZnTeホモエピタキシャル半導体薄膜の放射光トポグラフィによる結晶評価(格子欠陥・ナノ構造(力学物性・転位),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28aYR-9 SrTi(^O_^O_x)_3の低温ラウエトポグラフィー
- 22pYH-11 SPring-8における低温ラウエトポグラフィーの開発
- 28a-YK-12 X線の異常分散効果を利用したCDPの分極反転の観測
- 耐スキャブ腐食性に影響を及ぼすりん酸塩皮膜の構造(化成処理)(表面処理)
- 525 リン酸塩皮膜性能に及ぼす鋼板表面性状の影響(化成処理, 塗覆装鋼板, Zn 系電気めつき, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 112 回(秋季)講演大会)
- 524 耐スキャブ・コロージョン性から見た鋼板上のリン酸塩皮膜の性状(化成処理, 塗覆装鋼板, Zn 系電気めつき, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 112 回(秋季)講演大会)
- 3p-PS-83 Gd-Y-Sc合金単結晶の転移点近傍の磁性
- 1p-KL-6 低転位密度Al単結晶中のヘリカル転位
- 11p-Y-17 Gd-Y-Sc合金単結晶の磁性
- 12a-K-2 徐冷した低転位密度Al単結晶中の微小空孔集合体 II
- スパーク放電発光分析のパルス分布測定法における酸可溶・不溶成分の同定(分析・解析)
- 425 塩水噴霧試験によるクロメート皮膜の構造変化(鋼板の表面性状, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 114 回(秋季)講演大会)
- 31a-YK-13 原子空孔源として成長した転位ループの同定
- 29a-YC-9 原子空孔源として成長した格子間原子型転位ループのバーガースペクトル
- 28aRB-1 水晶(SiO_2)の不整合相転移点近傍での分域形成過程(28aRB 誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21aTE-6 X線トポグラフによる水晶のINC相相転移近傍の変調構造及び分域構造の観察(誘電体,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19pXA-6 光学及びX線トポグラフによる水晶の相境界近傍の変調構造の観察(誘電体,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 20pYM-10 リラクサー結晶PZNの白色X線トポグラフィ(誘電体,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aYF-3 DEI法によるチタン中の水素化物の観察(格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23aY-5 表面反射放射光トポグラフィによるMOCVD法で成長させたZnSe/GaAs薄膜の評価
- 中温域熱電材料の作製と熱電特性
- 27aYL-9 超高純度・低転位密度Al単結晶中の原子空孔源
- 24aB6 歪・焼鈍法で作製したアルミニウム単結晶の転位密度(バルク成長VII)
- 28a-ZA-13 歪・焼鈍法で作製した超高純度・低転位密度Al単結晶中の格子欠陥
- 26a-P-6 歪・焼鈍法による超高純度・低転位密度Al単結晶の製作
- 28aYK-10 X線屈折コントラスト法による漆器のウルシ層の画像化(X線・粒子線(X線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 28pRE-15 DEI法における密度変化分解能定量評価の試み(28pRE 領域10,領域5合同 X線・粒子線(X線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRB-7 X線断層トポグラフィによる水晶中の欠陥の三次元可視化(27pRB 格子欠陥・ナノ構造(転位・表面・界面),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pYC-3 超高純度・低転位密度AI単結晶中の原子空孔源 II
- 28aTA-1 HgをドープしたNb_3Te_4単結晶の作製と評価
- 22pYS-1 SPring-8白色X線トポグラフィックカメラによるNb_3Te_4単結晶の観察
- 25p-H-5 Al中のHeバブルの拡散
- 25p-H-4 Al中のHeバブルの動的挙動のその場観察
- 26p-T-8 温度変化に伴う高完全度Al単結晶中の欠陥構造の変化
- 26p-T-6 高完全度Al単結晶中の原子空孔型転位ループの形成
- 6p-A3-4 SRトポグラフィによる低転位密度Al単結晶中の原子空孔源の動的挙動
- 30p-P-14 原子空孔源として成長した格子間原子型転位ループの消滅過程 II
- 4a-Z-2 原子空孔源として成長した格子間原子型転位グループの消滅過程
- 5p-Q-2 1回走査型高温ラングカメラによる格子欠陥の観察
- 19pXB-6 VGF成長したZnSeウエハーのX線トポ・トモグラフィ的手法による評価(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21aXA-9 GaAs 基板上の ZnSe 薄膜の微小角入射トポグラフ
- 28pYG-5 微小角入射表面反射トポグラフィによる GaAs 基板上の ZnSe 薄膜の観察
- 17pTF-6 HgをドープしたNb_3Te_4単結晶の作製と評価II
- ヘリウムマイクロ波誘導プラズマ発光分析法による鉄鋼中介在物分析への試み
- 固体NMRによるスラグ中のF化学構造解析
- 表面分析技術-何をどう使いこなすか-
- 半導体実装におけるAu/Al接合信頼性に及ぼすAl表面自然酸化膜の影響
- Chalmers工科大学に滞在して
- Au/Al_2O_3/Al薄膜における金の拡散および金属間化合物生成の挙動
- 中国四国支部でのリフレッシュ理科教室
- リフレッシュ理科教室 (中国四国支部島根会場) 開催報告
- 有機分子の吸着によるケイ素の光電子放出挙動の変化(表面・界面・薄膜と分析化学)
- 7a-S-1 GaAs基板上のInGaAs薄膜における歪み緩和
- 自動車用Al-Mg-Si合金の酸化挙動
- 30a-K-10 高完全度Al単結晶中の原子空孔型転位ループ列の形成
- 30a-N-12 連続撮影用放射光トポカメラによる格子欠陥の観察
- 28pTJ-6 水晶中の新しいバーガースベクトルを持つ転位(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 22pGQ-5 水晶中の新しいバーガースベクトルを持つ転位(22pGQ 格子欠陥・ナノ構造(半導体・誘電体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 22pGQ-8 人工ダイヤモンド結晶中の格子欠陥(22pGQ 格子欠陥・ナノ構造(半導体・誘電体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 微小角入射X線トポグラフィによる半導体薄膜の結晶評価
- 24aCD-7 ナノワイヤー結晶から成長したGaAs/Siヘテロエピタキシャル半導体薄膜における歪緩和機構(24aCD 格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 28p-LG-10 低転位密度結晶における原子空孔の生成(格子欠陥)
- 25aXR-1 全反射条件下での表面反射トポグラフィによる半導体簿膜の観察(25aXR 格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野))