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STARC | 論文
- 25pYP-4 As^+イオン注入によりSi基板中に導入された反跳酸素と空孔型欠陥の検出
- 柔軟かつ高速な再構成を実現した動的再構成ロジックLSI
- C-12-34 動的再構成ロジックLSIの開発(2)
- C-12-33 動的再構成ロジックLSIの開発(1)
- システムLSIに輝かしい未来はあるか?
- 90-65nmテクノロジーに対応できるオンチップメモリは?
- 高性能マイクロプロセッサを実現するクロック分配技術
- 500MHz 32ワード x32ビット 3ポートレジスタファイル
- 500MHz 0.4μm CMOS 32ワード×32ビット3ポートレジスタファイル
- 1.8GHz 1.6V MOS電流モード(MCML)フリップフロップ回路
- 500HMz,1.5%ジッタPLLクロック発生回路
- 500MHz32ビット0.4μm CMOS RISCマイクロプロセッサ
- ダイナミック協働型ドライブ技術を用いた双方向バスリピータの自動方向制御方式(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- C-12-62 各種CMOSゲート・チェーンの最低可動電圧(V_)のモンテカルロ法によるシミュレーション(C-12.集積回路,一般セッション)
- MOSFETモデル評価用テスト回路(2) : 入力電圧の微少変化の増幅
- MOSFETモデル評価用テスト回路(1) : しきい値電圧付近の電流領域の評価
- ダイナミック協働型ドライブ技術を用いた双方向バスリピータの自動方向制御方式(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 26pPSB-20 Si(110)表面へのPb吸着構造のRHEED観察(領域9ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- DVFSのための電圧ステップ幅制御およびリファレンス電圧制御を用いた高速電源電圧制御方式(学生・若手研究会)
- C-12-13 先端CMOSプロセス向けSRAM開発におけるSRAMセル諸特性の効率的ばらつき評価手法(C-12.集積回路,一般セッション)
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