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首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | 論文
- SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察(設計/テスト/検証,設計/テスト/検証)
- D-10-20 同時多重に発生する過渡故障を前提にレジスタを二重化した順序回路(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について(安全性及び一般)
- 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察(ネットワーク環境でのディペンダビリティ)
- A-004 DHTルーティングシステムにおけるデータ分割配置手法の検討(モデル・アルゴリズム・プログラミング,一般論文)
- メモリBISTにおけるハードウェアオーバヘッドおよび故障位置特定に関する一考察(設計/テスト/検証)
- 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計(設計/テスト/検証)
- ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察(アナログ・ばらつき・電流テスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置(DC-1ネットワーク,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 実チップデバッグ手法における観測回路の挿入箇所および面積に関する一検討(設計/テスト/検証)
- 差分スナップショットを伴う連携チェックポインティングの提案と評価(コンカレント工業)
- 有限なロールバック間隔に対するハイブリッド状態保存手法の最適チェックポイント間隔(データ工学, ディペンダビリティ, 一般)
- 有限なロールバック間隔に対するハイブリッド状態保存手法の最適チェックポイント間隔(データ工学, ディペンダビリティ, 一般)
- C-030 ロールバックの制約を考慮した最適非連携チェックポイント間隔に関する検討(C分野:アーキテクチャ・ハードウェア)
- ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置(DC-1ネットワーク,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
- C-023 故障挿入によるTMRプロセッサの耐縮退故障性評価(C分野:ハードウェア・アーキテクチャ)
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