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首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科 | 論文
- 分散システムにおいて多世代データを保持するデータ複製プロトコル(分散システム)
- 安全・安心のための半導体設計・テスト技術(信頼性-温故知新-)
- 安全・安心のための半導体設計・テスト技術(信頼性-温故知新-)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 再構成可能オンチップデバッグ回路の面積削減に関する一考察 (ディペンダブルコンピューティング)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
- C-012 ポストシリコンデバッグにおける観測および制御回路挿入に関する一検討(ハードウェア・アーキテクチャ,一般論文)
- D-10-9 SRAMブロックを用いた論理回路の-構成手法(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- 過渡故障に耐性を持つ時間冗長プロセッサの検討(耐過度故障,SWoPP2006)
- C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)
- 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル(高信頼・高可用システム,ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル(高信頼・高可用システム,ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)
- D-10-13 学内LANにおける不正アクセス検出に関する一検討(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
- 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察(VLSIの設計/検証/テスト及び一般(デザインガイア))
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