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株式会社ルネサステクノロジ | 論文
- ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- ダイナミック電源雑音波形を考慮したデジタル信号遅延変動解析
- ダイナミック電源雑音によるデジタル信号遅延変動の評価
- ダイナミック電源雑音によるデジタル信号遅延変動の評価(デジタル・情報家電, 放送用, ゲーム機用システムLSI, 及び一般)
- ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 90nm級SoCプロセス対応配線キャラクタライズ手法(タイミング解析)(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 並列ふるい法とMPUを用いたウイルス検出エンジンについて(セキュリティ応用,デザインガイア2009 VLSI設計の新しい大地)
- 低消費電力基板型構造可変テスタの開発(VLSI設計とテスト)
- SoCデバッグ容易化技術とその応用(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
- SoCデバッグ容易化技術とその応用(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
- SoCデバッグ容易化技術とその応用(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
- SoCデバッグ容易化技術とその応用(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
- 短波帯を利用する電力線搬送装置に起因する漏洩電界強度の測定(PLC関連技術, 通信EMC/一般)
- 制限反応スパッタ法によるZrO_2薄膜の界面構造とゲート絶縁膜特性(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- ソフトエラーからのロールバック機構を有する低オーバーヘッド・高信頼マイコンアーキテクチャ
- 高効率冗長方式、システムLSI向けテスト容易化機能搭載の0.13μm 32M/64Mビット混載DRAMコア
- 携帯機器用画像処理システムLSI向け小面積、低消費電力混載DRAMマクロ (メモリ・混載メモリ及びIC一般)
- 汎用メモリによる高速検索ハードウェアのコスト評価と最適パラメータの導出(ネットワーク品質,トラヒック計測,サービス品質,一般)
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