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奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科 | 論文
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- ダイナミクスを考慮したソースフィルタモデルの推定(音響信号処理)
- 線スペクトル対を用いた楽器分類
- マルチクロック・ドメイン・コアテストのための再構成可能ラッパーの一構成法(テスト容易化設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法(設計/テスト/検証)
- デスクワークにおけるアウェアネス向上のための作業計測
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出法の考察(ポスターセッション,ネットワーク,通信のための信号処理及び一般)
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出法の考察(ポスターセッション,ネットワーク,通信のための信号処理及び一般)
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出法の考察(ポスターセッション,ネットワーク,通信のための信号処理及び一般)
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出への適用
- ATPGツールを用いた組込み自己テストのための評価支援システムの構築
- 非パイプラインプロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計(上流DFT,VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せテスト生成複雑度でテスト生成可能な順序回路構造とその応用
- メトリクス値の標準化による fault-prone モジュール判別モデルの精度向上
- 完全故障検出効率を保証するRTLデータパスの部分強可検査性に基づくテスト容易化設計法(半導体テスト,ディペンダブルコンピューティング論文)
- 完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計
- 完全故障検出効率を保証するデータパスの部分強可検査設計(上流 DFT, VLSI 設計とテスト及び一般)
- RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法(スキャンテスト・テスト容易化高位合成,VLSI設計とテスト及び一般)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計
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