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奈良先端科学技術大学院大学,情報科学研究科 | 論文
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法
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- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルでの非スキャンテスト容易化設計法
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルでの非スキャンテスト容易化設計法
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- テスト実行時間削減のためのデータパスの強可検査性に基づくテスト容易化設計法
- レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 拡張データフローグラフを用いたRTレベルデータパスの階層テスト容易化設計法
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出法の考察
- 判別分析の幾何的解釈と楽器特徴抽出法の考察
- 機能等価性情報を用いたRTL-GLパスマッピングの一手法(高位合成及び検証,信号処理,LSI,及び一般)
- 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定(上流テスト・テスト圧縮,VLSI設計とテスト及び一般)