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九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest | 論文
- スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (VLSI設計技術)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (ディペンダブルコンピューティング)
- 論理BISTの電力低減手法と評価 (ディペンダブルコンピューティング)
- マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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- 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般)
- マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 (ディペンダブルコンピューティング)
- リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証)