マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (ディペンダブルコンピューティング)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 電子情報通信学会の論文
• 2011-11-28

著者

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

関連論文

• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (VLSI設計技術)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (ディペンダブルコンピューティング)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
• マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)

スポンサーリンク