マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 (VLSI設計技術)

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概要

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• 電子情報通信学会の論文
• 2011-11-28

著者

• 山口 久登

  九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構crest

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