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(株)東芝 セミコンダクター社 | 論文
- Flashのデバイス・シミュレーション技術
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- 配線の信頼性を考慮したギガビットDRAMの設計法
- 配線の信頼性、信頼性に関連した歩留りを考慮したギガビットDRAMの設計法
- 64MビットDRAM基礎技術 (集積回路)
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- B-5-92 ハイブリッドMMAC試作システムの開発 : MACの構成
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- パワーエレクトロニクスとパワーデバイス
- 高性能DC-DCコンバータIC向け0.13μmプロセスによる低RonA 8V LDMOSの開発
- 移動受信環境下におけるOFDM信号のバースト誤り低減方法の効果
- OFDM信号の同期検波ダイバーシチ受信方式の検討
- OFDM信号の伝送路応答に対する適応フィルタリングの効果
- SFNにおけるOFDMの移動受信特性
- 16DAPSK-OFDMのダイバーシチ受信特性
- NAND Flashメモリ高性能化の技術動向とNAND Flashプロセスでの混載DRAM技術(不揮発性メモリ,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- CuSiN/Cu/Ti系バリア構造におけるCu表面酸化層のEM信頼性へ与える影響(配線・実装技術と関連材料技術)