鈴木 泰之 | 東大工
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概要
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鈴木 泰之
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横浜国立大学大学院環境情報研究院人工環境と情報部門
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信越半導体
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東大工
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著作論文
- 5a-AC-4 陽電子寿命と電子運動豊の相関
- 3p-SG-5 FIMによるNbSe_3の研究
- 6a-A3-6 酸化物超伝導体中の構造欠陥の陽電子寿命法による研究
- 30p-T-7 加工したCuのμ^+SR
- 28a-H-6 正ミューオンのAl-Mg希薄合金中での拡散
- 2a-SG-8 Al希薄合金中の正ミューオンの拡散 : detrapを含むtrapping model
- 30p-T-8 ミューオン・スピン緩和のトラッピング・モデル : Al稀薄合金への応用
- 3a-A-2 遷移金属カルコゲナイド結晶の成長II
- 1a-KL-2 シンチレーションカメラを使用した陽電子消滅角相関装置II
- 11p-L-11 シンチレーションカメラを応用した陽電子消滅二次元角相関測定装置
- 2a-SG-8 Al希薄合金中での正ミューオンの拡散 : detrapを含むtrapping model
- 31p-K-13 (SN)_xの陽電子消滅
- 3a-G-9 ポリアセチレン(CH)_xの陽電子消滅
- 5a-AC-8 MWPCを用いた陽電子消滅角相関二次元Detector
- 30p-LG-2 MgOの電子線照射効果(格子欠陥)
- 28a-LG-4 陽電子消滅法を用いたシリコン中の格子欠陥の研究(格子欠陥)
- 29a-FA-3 シンチレーションカメラを用いた陽電子消滅角度相関法による単結晶シリコンの研究(29a FA 格子欠陥)