山下 良之 | 阪大基礎工及び有機光セ

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概要

• 同名の論文著者
• 阪大基礎工及び有機光セの論文著者

関連著者

• 山下 良之

  阪大基礎工及び有機光セ

• 中戸 義禮

  阪大基礎工及び有機光セ

• 小林 光

  阪大産研:科技団crest

• 小林 光

  阪大基礎工及び有機光セ

• 西岡 泰城

  日本TI筑波研究開発セ

• 西岡 泰城

  TI筑波研究開発セ

• 久保田 智広

  阪大基礎工及び有機光セ

• 久保田 智広

  東北大:理研

• 難波 健治

  阪大基礎工及び有機光セ

• 難波 健治

  阪大・基礎工 有機光セ

• 久保田 智広

  理研

• 森 利雄

  阪大・基礎工

• 森 利雄

  阪大基礎工及び有機光セ

• 浅野 明

  阪大 産研

• 小林 光

  科技団

• 浅野 明

  阪大基礎工及び有機光セ

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著作論文

• 1p-YE-14 Si/SiO_2界面の界面準位のエネルギー分布の酸化膜形成温度依存性 : バイアス電圧印加時のXPS測定
• 6a-B-13 シリコンのラフネスがシリコン/シリコン酸化膜界面のバンドギャップ内界面準位に及ぼす影響
• 5a-A-3 Si/SiO_2界面の界面準位の密度汎関数法による第一原理理論計算
• 30a-PS-34 酸化膜のSi2p準位の界面準位に誘起されたシフトの観測
• 2a-J-10 MOS型デバイスにおける半導体のバンドギャップ内の表面準位の観測 : バイアス電圧印加時のXPS測定II実験
• 2a-J-9 MOS型デバイスにおける半導体のバンドギャップ内の表面準位の観測 : バイアス電圧印加時のXPS測定I原理

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