森 利雄 | 阪大基礎工及び有機光セ
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概要
関連著者
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山下 良之
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著作論文
- 2a-J-10 MOS型デバイスにおける半導体のバンドギャップ内の表面準位の観測 : バイアス電圧印加時のXPS測定II実験
- 2a-J-9 MOS型デバイスにおける半導体のバンドギャップ内の表面準位の観測 : バイアス電圧印加時のXPS測定I原理