山田 登 | 豊田中央研究所

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概要

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関連著者

• 市村 正也

  名古屋工業大学機能工学専攻

• 山田 登

  豊田中央研究所

• 荒井 英輔

  名古屋工業大学大学院工学研究科

• 荒井 英輔

  名古屋工業大学

• 市村 正也

  名古屋工業大学、機能工学専攻

• 市村 正也

  名古屋工業大学

• 加藤 正史

  名古屋工業大学

• 徳田 豊

  愛知工業大学 電子工学科

• 徳田 豊

  愛知工学部工学部電子工学科

• 徳田 豊

  愛知工業大学

• 古賀 祥泰

  名古屋工業大学

• 祖父江 文孝

  名古屋工業大学

• 阿部 哲士

  名古屋工業大学

• 山田 登

  名古屋工業大学豊田中央研究所

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著作論文

• 3C-SiCの容量DLTS測定による電子トラップの捕獲断面積とエネルギー準位の評価
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• 水素プラズマ処理をした3C-SiCの深い準位の測定
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• Si基板上に成長させた3C-SiCの容量DLTS法による評価 : 室温以上の温度域であらわれる欠陥
• Si基板上に成長させた3C-SiCの容量DLTS法による評価 : 室温以上の温度域であらわれる欠陥
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