伊藤 雄一郎 | 株式会社富士通研究所基盤技術研究所
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概要
関連著者
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伊藤 雄一郎
株式会社富士通研究所基盤技術研究所
-
石崎 洋之
株式会社富士通研究所基盤技術研究所
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菅野 俊雄
防衛庁技術研究本部
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伊藤 雄一郎
富士通研究所厚木研究所赤外デバイス研究部
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石崎 洋之
富士通研究所厚木研究所赤外デバイス研究部
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梶原 信之
株式会社富士通研究所基盤技術研究所
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佐賀 実
防衛庁 技研本部
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角田 令吉
防衛庁技術研究本部
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打越 政弘
防衛庁技術研究本部第二研究所
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中村 正昭
富士通株式会社特機システム事業部
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谷川 邦広
富士通研究所厚木研究所赤外デバイス研究部
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吉田 幸広
富士通研
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佐賀 実
防衛庁技術研究本部第二研究所
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長嶋 満宏
防衛庁技術研究本部第2研究所
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粟本 健司
富士通研究所厚木研究所赤外デバイス研究部
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吉田 幸広
富士通研究所厚木研究所赤外デバイス研究部
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宮本 義博
株式会社富士通研究所基盤技術研究所
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梶原 信之
富士通研
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伊藤 雄一郎
(株)富士通研究所
-
梶原 信之
(株)富士通研究所
-
石崎 洋之
(株)富士通研究所
-
栗本 健司
富士通研
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谷川 邦広
株式会社富士通研究所
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管野 俊男
防衛庁
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谷川 邦広
富士通
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宮本 義博
(株)富士通研究所 基盤技術研究所
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長嶋 満宏
防衛庁技術研究本部 第2研究所
著作論文
- ハイブリッド型256×256画素10μm帯HgCdTe赤外線センサ
- 8)ハイブリッド型256×256画素10μm帯HgCdTe赤外センサ(情報入力研究会)
- ハイブリッド型256×256画素10μm帯HgCdTe赤外センサ : 情報入力
- HgCdTe IRCCDの解像度向上
- 裏面入射型赤外線検知器の画素分離溝による空間解像度の向上
- 2)HgCdTe IRCCDの高画質化(情報入力研究会)
- 3〜5μm帯64×64画素HgCdTe IRCCD(固体撮像技術)
- 1)3-5μm帯64×64画素HgCdTe IRCCD([テレビジョン方式・回路研究会テレビジョン電子装置研究会]合同)
- 3-5μm帯64×64画素HgCdTe IRCCD