福森 太一郎 | 宮崎大学工学部材料物理工学科

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• 福森 太一郎

  宮崎大学工学部材料物理工学科

• 福森 太一郎

  宮崎大学工学部応用物理学科

• 明石 義人

  宮崎大学工学部材料物理工学科

• 明石 義人

  宮崎大学工学部

• 黒木 正子

  宮崎大学工学部応用物理学科

• 二神 光次

  九州産業大学工学部

• 二神 光次

  宮崎大 工

• 福山 敦彦

  宮崎大学工学部材料物理工学科

• 秋山 正弘

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 平原 洋和

  都城高専

• 平原 洋和

  都城工業高等専門学校

• 長友 秀樹

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 福山 敦彦

  宮崎大学工学部物質工学科

• 牧野 洋一

  宮崎大学工学研究科応用物理学専攻

• 木原 幸太郎

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 麻生 貴之

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 椛島 唯士

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 佐藤 英司

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 小八重 修司

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 藤原 義友

  宮崎大学工学研究科応用物理学専攻

• 藤島 亮

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 重留 仁士

  宮崎大学工学研究科

• 藤澤 通人

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 廣岡 俊治

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 村富 友典

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 西牟田 啓之

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 坂元 誠志

  宮崎大学工学研究科物質工学専攻

• 小佐井 昭

  宮崎大工

• 福山 茂男

  宮崎大工

• 福森 太一郎

  宮崎大工

• 小佐井 昭

  宮崎大学工学部応用理学教室

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著作論文

• Ni_65Cr_16P_19アモルファス合金のスパッタ薄膜における結晶化過程の電子顕微鏡観察
• 窒素イオン注入Si及びSi酸化膜端に生じる格子欠陥の観察と評価
• X線トポグラフィによるSi結晶表面下の格子歪の解析
• 低エネルギーNイオン注入Siのアニール効果と表面格子歪の評価
• Al-Cu希薄合金の急冷2次欠陥の形成
• X線2結晶トポグラフィによるGaAsウエハ-の格子歪みの観察
• 非晶質Ni81-P19合金の結晶化過程における機械的性質
• 透過電子顕微鏡の性能検査結果
• X線回折強度曲線の測定によるGaAsウエハ-の熱処理効果
• Cukα2重線を用いた2結晶法によるGaAs結晶の格子定数の精密測定
• Si中に拡散したCoの電子顕微鏡による観察
• Cu Kα Doubletを用いた非対称反射平行配置による格子定数の測定
• Cu Kα Doubletを用いた単結晶対称反射による格子定数測定法
• Cu Kα Doubletによる格子定数の測定法
• シリコン結晶中の欠陥形成に及ぼす高温熱処理効果
• パルスレーザー照射によるシリコン結晶の強化
• パルスレーザー照射欠陥のゲッタリング能力評価
• (+,+)配置連続反射のX線モノクロメータ・システム
• ウルトラミクロトームによる透過型電子顕微鏡試料の作成
• CZ-Si単結晶中の熱処理に伴う酸素析出挙動
• シリコン中の酸素析出物と観察
• Kα2重線を用いた格子定数の精密測定法
• シリコン(Si)表面に形成されたDenuded Zone境界の格子定数の変化
• 化学的気相成長法窒化膜によるSi結晶中の格子欠陥の研究
• X線回折法による不純物拡散シリコン結晶の格子歪の解析
• シリコン結晶中の酸素析出に伴う格子欠陥の観察
• X線回析による非晶質合金(Ni_81P_19)の動的結晶化過程の解析
• 微小角入射X線トポグラフィによる(100)Si表面の格子歪の観察と評価
• 全反射臨界角近傍でのX線回折法によるシリコン結晶中の微小格子歪の観察・評価
• 黒鉛-ブロム系のHall効果I : 半導体 : 輸送

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