冨田 佳宏 | 松下電器産業

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概要

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関連著者

• 冨田 佳宏

  松下電器産業株式会社

• 冨田 佳宏

  松下電器産業

• 冨田 佳宏

  松下電器産業(株)中央研究所

• 富田 佳宏

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 南波 昭彦

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 小掠 哲義

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 江田 和生

  松下電器産業(株)材料デバイス研究所

• 江田 和生

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 江田 和生

  松下電器産業(株)デバイス・エンジニアリング開発センター

• 小椋 哲義

  松下電器産業(株)材料デバイス研究所

• 小椋 哲義

  松下電器産業(株)

• 高山 良一

  松下電器産業(株)先行デバイス開発センター

• 田口 豊

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 杉本 雅人

  松下電器産業(株)材料デバイス研究所

• 田口 豊

  松下電器産業 デバイス・エンジニアリング開セ

• 田口 豊

  松下電器産業株式会社デバイスエンジニアリング開発センター

• 高山 良一

  松下電器産業(株)中央研究所

• 杉本 雅人

  松下電器産業株式会社

• 森 勇蔵

  大阪大学工学部

• 阿部 惇

  松下電器

• 阿部 惇

  松下電器産業(株)中央研究所

• 野村 幸治

  松下電子部品

• 野村 幸治

  パナソニックエレクトロニックデバイス(株)開発技術センター

• 野村 幸治

  松下電子部品株式会社

• 冨田 佳宏

  松下電器

• 野村 幸治

  松下電器産業(株)中央研究所

• 小川 久仁

  松下電器産業(株)中央研究所

• 岡野 哲之

  株式会社 松下テクノリサーチ薄膜分析グループ

• 佐藤 浩輝

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 大西 慶治

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 川崎 修

  松下電器産業株式会社デバイス・エンジニアリング開発センター

• 池田 勝

  松下電器産業(株)材料デバイス研究所

• 岡野 哲之

  松下テクノリサーチ

• 岡野 哲之

  (株)松下テクノリサーチ

• 佐々木 幸紀

  パナソニックエレクトロニックデバイス

• 冨田 佳宏

  松下電器産業(株)材料デバイス研究所

• 佐々木 幸紀

  松下電子部品株式会社

• 島村 徹郎

  松下電子部品株式会社

• 高山 良一

  松下電器

• 川崎 修

  松下電器産業

• 佐々木 幸紀

  松下電子部品

• 山村 和也

  大阪大学工学部精密工学科

• 川崎 修

  松下電器産業(株) デバイス ・ エンジニアリング開発センター

• 阿部 惇

  松下電器産業(株)中央研究所 材料グループ

• 小掠 哲義

  松下電器産業株式会社システムエンジニアリングセンター

• 島村 徹郎

  松下電子部品

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著作論文

• 水晶onシリコン(QOS)ワンチップ発振器
• 焦電型赤外線2次元センサ
• PbTiO_3系焦電薄膜を用いた高性能赤外線センサ
• 直接接合を用いた温度特性補償基板
• 水晶onシリコン(QOS)水晶振動子の振動モード : X線トポグラフとモード解析
• 単結晶圧電体onシリコン技術 : 直接接合型圧電デバイス
• A-11-11 LiNbO_3を用いた100MHz帯偶数次振動子
• プラズマCVMによる水晶の加工

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