高橋 良和 | 日本アイ・ビー・エム野洲事業所半導体パッケージ製品技術

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• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲事業所半導体パッケージ製品技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野州工場半導体試験技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

• 西村 雅史

  アイテス信頼性保証

• 山田 和宏

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

• 清水 英彦

  新潟大学工学部電気電子工学科

• 金子 双男

  新潟大学大学院自然科学研究科

• 坪井 望

  新潟大学工学部

• 金子 双男

  新潟大学超域研究機構:新潟大学大学院自然科学研究科

• 金子 双男

  新潟大学工学部

• 坪井 望

  新潟大学工学部機能材料工学科

• 清水 英彦

  新潟大 工

• 加藤 景三

  新潟大学工学部

• 伊藤 雄二

  新潟大学大学院自然科学研究科

• 高橋 良和

  新潟大学大学院自然科学研究科

• 小林 敏志

  新潟大学工学部

• Kato K

  Nippon Telegraph And Telephone Corp. Tokyo Jpn

• Kato K

  Shizuoka Johoku Senior High School Shizuoka Jpn

• Kato Ken-ichi

  Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Osaka City University

• 清水 英彦

  新潟大学工学部

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著作論文

• In-Situ THB/HAST/TC装置の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• FCBGAパッケージ評価用1792チャンネルDCテスター(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• Logic testerのVector Memory拡張システムの開発
• 対向ターゲット式反応性スパッタ法によるCuAlO_2薄膜の作製と評価
• In-Situ THB/HAST/TC装置の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• FCBGAパッケージ評価用1792チャンネルDCテスター(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• Logic testerのVector Memory拡張システムの開発
• GND電流の第2高調波のパワー測定による櫛形アクチュエータの周波数特性の測定

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