Logic testerのVector Memory拡張システムの開発

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概要

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• A社の旧型logic tester用にLSSD testパターン用のvector memoryを拡張するシステムを開発した。これにより、最近のLSIのtestが困難であった旧型テスターが新型テスターとほぼ同等の機能を有するようになりwafer testで2010年以降まで使用することが可能である事を検証した。

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2003-01-24

著者

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲事業所半導体パッケージ製品技術

• 山田 和宏

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野州工場半導体試験技術

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