高橋 良和 | 日本アイ・ビー・エム野州工場半導体試験技術

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概要

• 同名の論文著者
• 日本アイ・ビー・エム野州工場半導体試験技術の論文著者

関連著者

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲事業所半導体パッケージ製品技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野州工場半導体試験技術

• 西村 雅史

  アイテス信頼性保証

• 山田 和宏

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

• 高橋 良和

  日本アイ・ビー・エム野洲工場半導体試験技術

著作論文

• In-Situ THB/HAST/TC装置の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• FCBGAパッケージ評価用1792チャンネルDCテスター(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• Logic testerのVector Memory拡張システムの開発
• In-Situ THB/HAST/TC装置の開発(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• FCBGAパッケージ評価用1792チャンネルDCテスター(LSIシステムの実装・モジュール化技術及びテスト技術,一般)
• Logic testerのVector Memory拡張システムの開発

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