中村 勝吾 | 阪大産研
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概要
関連著者
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中村 勝吾
阪大産研
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中村 勝吾
阪大 産研
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岩崎 裕
阪大産研
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李 成泰
阪大産研
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中村 勝吾
阪大・産研
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李 成泰
阪大・産研
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堀岡 啓治
阪大産研
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丸野 茂光
阪大産研
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丸野 茂光
大阪大学産業科学研究所
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堀岡 啓治
大阪大学産業科学研究所
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長谷川 繁彦
阪大産研
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黒田 司
阪大産研
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黒田 司
大阪大学 産業科学研究所
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八木 秀一
阪大産研
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長谷川 幸雄
東大物性研
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田中 高穂
無機材研
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桜井 利夫
東大物性研
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河合 七雄
無機材研
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一宮 彪彦
名大工応物
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溝川 悠介
大阪府立大学総合教育研究機構
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溝川 悠介
阪府大総科
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西谷 正和
阪大産研
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坂田 東洋
阪大産研
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橋詰 富博
東大物性研
著作論文
- 4a-RJ-9 Si(111)5×1-Au相の角度分解電子エネルギー損失分光
- 27a-Y-13 Si(111)7×7清浄表面及びAg吸着面における表面プラズモンの分散
- 30p-M-11 I-V曲線に現われたSi(001)表面の非弾性低速電子回折の異常
- 31a-L-6 Si(001)面の表面遷移ELSの角度分布
- 2a-NM-9 Si(001)面の表面プラズモンの分散
- 2p-Q-14 LaB_6表面局在電子状態のUPS
- シリコン表面のESRによる研究 : 半導体 (表面)
- 電界イオン顕微鏡による金属蒸着膜の研究 : 薄膜
- 耐熱金属への酸素をセシウムの吸着 : 表面物理, 薄膜
- Si (001) 面からの低速電子線非弾性回折 (ILEED)
- 角度分解電子エネルギー損失分光法によるSi表面の研究(表面に特有な超格子構造の解析とその新しい方法の開発,科研費研究会報告)
- 3p-U-6 FIMによる表面構造の解析
- 結晶表面の複合解体と評価
- 真空漏れさがし : 私はこうしている [IV] (実験メモ)
- J.J. Hren and S.Ranganathan 編: Field-Ion Microscopy, Plenum Press, 1968, 244頁, 16×23.5cm, 6,000円.
- 表面移動および核生成(FEM, FIM) : 薄膜・表面物理・真空・合同シンポジウム : 固体表面現象の問題点I : 吸着と蒸着
- 1p-BG-4 SiC-金属界面の研究-パルスレーザー・アトムプローブ法による-(1p BG 表面・界面)
- 2p-A1-3 Si(111)5×5-GeのAR-EELS(2p A1 表面・界面,量子エレクトロニクス)