黒田 司 | 阪大産研
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概要
関連著者
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黒田 司
阪大産研
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八木 秀一
阪大産研
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黒田 司
大阪大学 産業科学研究所
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中村 勝吾
阪大産研
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小笠原 俊英
阪大産研
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中村 勝吾
阪大 産研
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黒田 司
大阪大学産業科学研究所
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坂田 東洋
阪大産研
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小笠原 俊英
大阪大学産業科学研究所
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八木 秀一
大阪大学産業科学研究所
著作論文
- 薄膜MOSFET界面の損傷欠陥とオーミック特性
- 電界イオン顕微鏡による金属蒸着膜の研究 : 薄膜
- 耐熱金属への酸素をセシウムの吸着 : 表面物理, 薄膜
- 13a-DF-14 半導体デバイスの表面を加工処理したときに生じる機械的損傷, 欠陥と電子特性の評価と対策