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小笠原 俊英 | 阪大産研
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黒田 司
阪大産研
八木 秀一
阪大産研
小笠原 俊英
阪大産研
黒田 司
大阪大学産業科学研究所
小笠原 俊英
大阪大学産業科学研究所
八木 秀一
大阪大学産業科学研究所
著作論文
薄膜MOSFET界面の損傷欠陥とオーミック特性
13a-DF-14 半導体デバイスの表面を加工処理したときに生じる機械的損傷, 欠陥と電子特性の評価と対策
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