井上 貴仁 | 電子技術総合研究所

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概要

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関連著者

• 井上 貴仁

  産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門

• 井上 貴仁

  電子技術総合研究所

• 井上 貴仁

  サントリー(株)生物医学研究所

• 横山 浩

  電子技術総合研究所

• 伊藤 順司

  電子技術総合研究所プロセス基礎研究室

• 伊藤 順司

  産業技術総合研究所

• 伊藤 順司

  電子技術総合研究所

• 金丸 正剛

  産業技術総合研究所

• 横山 浩

  産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門

• 金丸 正剛

  電子技術総合研究所

• 安室 千晃

  産業技術総合研究所

• 山本 恵彦

  独立行政法人産業技術総合研究所 中央第2エレクトロニクス研究部門

• 平野 貴之

  (株)神戸製鋼所

• 水谷 文雄

  Graduate School Of Material Science University Of Hyogo

• 平田 芳樹

  産総研

• 平野 貴之

  神戸製鋼所

• 山本 恵彦

  筑波大学

• 水谷 文雄

  生命工学工技研

• 山本 恵彦

  筑波大学物理工学系

• 安室 千晃

  東海大学

• 名塚 雄太郎

  東海大学

• Carpick Robert

  カリフォルニア大学バークレー校ローレンスバークレー研究所

• Ogletree Frank

  カリフォルニア大学バークレー校ローレンスバークレー研究所

• Salmeron Miquel

  カリフォルニア大学バークレー校ローレンスバークレー研究所

• 牧野 匡博

  筑波大学

• 江原 啓吾

  東洋鋼鈑株式会社

• 平田 芳樹

  生命工学工業技術研究所

• 曽良 達生

  生命工学工業技術研究所

• Mark J.Jeffery

  電子技術総合研究所

• 水谷 文雄

  産業技術総合研 生物機能工学研究部門

• 山本 恵彦

  筑波大学・物理工学系

• 金丸 正剛

  産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

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著作論文

• 走査型マクスウェル応力顕微鏡を用いたエミッタ材料の評価
• 導電性AFM探針を用いたダイヤモンド薄膜からの電界放射の局所計測
• 超高真空マクスウエル応力顕微鏡によるエミッタ材料の評価
• 1T28 走査型マックスウエル顕微鏡を用いた光誘起表面電位変化の検出
• 超高真空走査型電気力顕微鏡 : 高分解能電気物性情報を得るためのノウハウ
• 走査型電気力顕微鏡 : 高分解能電気物性情報を得るためのノウハウ
• 走査型マクスウェル応力顕微鏡による有機薄膜の局所的電気力のイメージング
• ヘテロダイン力検出法に基づく走査型マクスウェル応力顕微鏡の高分解能化 - 機械電気混変調法 -
• 走査型マクスウェル応力顕微鏡による表面の電気的イメージング
• 走査型マクスウェル応力顕微鏡(SMM) : ナノ構造デバイス・材料の電気物性評価に向けて

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