莇 丈史 | NEC基礎研

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概要

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• 莇 丈史

  日本電気

• 莇 丈史

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• 日比谷 孟俊

  東工大

• 中村 新

  日本電気(株)基礎研究所

• 中村 新

  NEC基礎研究所

• 日比谷 孟俊

  NEC基礎研

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  Nec

• 江口 実

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• 角地 雅信

  東工大

• 日比谷 孟俊

  東工大大学院総合理工学研究科

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  東工大院

• 角地 雅信

  東工大院

• 江口 実

  NEC R&Dサポート

• 角地 雅信

  東工大大学院総合理工学研究科

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著作論文

• F206 CZ-Siメルト表面のスポークパターン形成における表面張力起因対流の役割(オーガナイズドセッション17 : 材料およびデバイス製造の熱工学)
• マランゴニ温度振動に起因する固液界面振動の観察 : バルク成長III
• シリコンメルト表面におけるベナールセルの観測
• 24aB2 浅いシリコンメルト表面における温度変動(バルク成長VII)
• シリコンメルト表面の非接触温度測定
• マランゴニ対流に起因するシリコン液柱内部の温度振動 ; アスペクト比の比較
• マランゴニ対流に起因するSi液柱内部の温度振動に対する液柱高さの寄与

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