伊坂 朋子 | 東理大理

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• 東理大理の論文著者

関連著者

• 橋本 巌

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立高専

• 伊坂 朋子

  東理大理

• 倉持 幸治

  東理大理

• 橋本 巖

  東理大理

著作論文

• 25pYS-3 収束電子線回折法によるSOI wafer中の歪分布の精密測定(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 13pTJ-6 収束電子線回折法を用いた Si/SiO_2 酸化膜の歪分布の精密測定(電子線, 領域 10)
• 28aXM-9 収束電子線回折法を用いた局所歪みの測定方法II(X線・粒子線(電子線))(領域10)
• 22aXB-4 収束電子線回折法を用いた局所歪みの測定方法

スポンサーリンク