米田 里志 | 北海道工業大学
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概要
関連著者
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澤田 孝幸
北海道工業大学
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米田 里志
北海道工業大学
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米田 里志
北海道工業大学応用電子工学専攻
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鈴木 敏正
日本工業大学
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金 聖祐
日本工業大学
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高橋 健輔
北海道工業大学
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高橋 健輔
北海道工業大学大学院応用電子工学専攻
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今井 和明
北海道工業大学
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今井 和明
北海道工業大学創生工学部
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伊勢 京介
北海道工業大学大学院応用電子工学専攻
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今井 和明[他]
北海道工業大学電気電子工学科
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澤田 孝幸[他]
北海道工業大学電気電子工学科
著作論文
- Ni/i-AlGaN/GaNゲート構造の電気的特性評価と熱処理の影響(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))
- Ni/i-AlGaN/GaNゲート構造の電気的特性評価と熱処理の影響(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))
- Ni/i-AlGaN/GaNゲート構造の電気的特性評価と熱処理の影響(特別セッションテーマ: GaN電子デバイスはどこまで特性を伸ばすのか?, 窒化物半導体光・電子デバイス・材料, 及び関連技術, 及び一般(窒化物半導体国際ワークショップ))
- Ni/n-(Al)GaNショットキーの電気的特性 : MBE膜とMOCVD膜の比較
- AlxGa1-xN単層膜およびAlGaN/GaNヘテロ構造のMBE成長と評価