小林 尚平 | 信州大学工学部
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概要
関連著者
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鈴木 真一郎
信州大学工学部
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林部 林平
信州大学工学部
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上村 喜一
信州大学工学部
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山上 朋彦
信州大学工学部
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村田 裕亮
信州大学工学部
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小林 尚平
信州大学工学部
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上村 喜一
信州大学工学部電気電子工学科
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山上 朋彦
信州大学工学部電気電子工学科
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林部 林平
信州大学工学部電気電子工学科
著作論文
- MIS型ショットキー接触の電流電圧特性を利用した窒化膜/SiC界面特性の評価(薄膜プロセス・材料,一般)
- C-6-9 直接窒化法を用いたSiCMIS構造の界面特性(C-6.電子部品・材料,一般セッション)