植木 武美 | Nttエレクトロニクス(株)saセンタ

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概要

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関連著者

• 植木 武美

  Nttエレクトロニクス(株)saセンタ

• 植木 武美

  Nttエレクトロニクス

• 植木 武美

  NTTエレクトロニクス(株)

• 中村 信二

  Ntt エレクトロニクス(株)

• 小峰 行雄

  日本電信電話株式会社 Ntt通信エネルギー研究所

• 中島 蕃

  NTTエレクトロニクス(株) エレクトロニクス事業本部

• 富沢 雅彰

  NTT生活環境研究所

• 竹田 忠雄

  NTTシステムエレクトロニクス(株)研究所

• 中島 蕃

  Nttエレクトロニクス

• 森 博太郎

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 富田 雅人

  NTT

• 田沢 聰

  Ntt Lsi研究所

• 森 博太郎

  阪大UHVEM

• 富田 雅人

  NTT生活環境研究所

• 井上 直久

  大阪府大先端研

• 古川 進

  大阪大学超高圧電顕センター

• 井上 直久

  大阪府大

• 井上 直久

  大阪府立大学先端科学研究所

• 富田 雅人

  Ntt基礎総研

• 富田 雅人

  Ntt基礎技術総合研究所

• 井上 直久

  大阪府立大学 先端科学研究所

• 森 博太郎

  大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター

• 鷹岡 昭夫

  大阪大学超高圧電顕センター

• 各務 裕之

  大阪大学超高圧電顕センター

• 富田 雅人

  Ntt 生活環境研

• 鷹岡 昭夫

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 中村 信二

  NTTエレクトロニクス(株)SAセンタ

• 塩野谷 寧

  NTTエレクトロニクス(株)SAセンタ

• 竹田 忠雄

  日本電信電話株式会社NTT生活環境研究所

• 小峰 行雄

  日本電信電話株式会社 NTTマイクロシステムインテグレーション研究所

• 逸見 学

  NTTエレクトロニクス

• 逸見 学

  NTT基礎総合技術研究所

• 秋谷 秀夫

  NTT基礎総合技術研究所

• 山脇 正隆

  NTTアドバンステクノロジー

• 中村 信二

  日本電信電話株式会社システムエレクトロニクス研究所

• 植木 武美

  エレクトロニクス株式会社

• 逸見 学

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 秋谷 秀夫

  NTTシステムエレクトロニクス研究所

• 竹田 忠雄

  Nttコミュニケーションズ株式会社

• 竹田 忠雄

  日本電信電話(株) システムエレクトロニクス研究所

• 富田 雅人

  Ntt基礎総合技術研究所

• 中村 信二

  Nttエレクトロニクス Saセ

• 森 博太郎

  大阪大学超高圧電子顕微鏡セソター

• 中村 信二

  日本電信電話公社

• 井上 直久

  大阪府立大先端研

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著作論文

• ATM回線を介した超高圧電子顕微鏡による電子デバイス断面構造の遠隔観察
• 絶縁体上のシリコン層(SOI)に形成したデバイスにおけるタングステンコンタクト不良の構造解析
• ネットワークを介した超高圧電子顕微鏡によるLSI微細構造の遠隔観察 (特集論文 グローバルECS/GMNテストベッド)
• 23pYP-7 八面体空洞欠陥(DOV)の構造と生成・消滅過程
• CZ-Si中Grown-in欠陥の透過型電子顕微鏡による観察技術
• Siバルク単結晶内の8面体ボイド状欠陥
• ゲート酸化膜のウィークスポットを検出する銅析出法
• 断面TEMによるLSI故障解析技術
• 故障構造解析へのエキシマレ-ザの応用
• LSIの故障解析に適した断面TEM技術
• 0.25μm CMOS LSIのリ-ク故障解析技術
• 短TAT故障解析技術

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