平林 温夫 | 富士電機株式会社

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概要

• 同名の論文著者
• 富士電機株式会社の論文著者

関連著者

• 澄田 仁志

  富士電機(株)IC第2開発部

• 澄田 仁志

  富士電機株式会社

• 平林 温夫

  富士電機株式会社

• 澄田 仁志

  富士電機 松本工場

• 島袋 浩

  富士電機株式会社

• 田上 三郎

  富士電機株式会社

著作論文

• C-11-11 容量負荷を駆動する横型MOSFETの破壊電圧におけるレイアウトパターン依存性
• 高耐圧横形デバイスの多層金属配線の交差による耐圧変化
• 高耐圧SOI-pMOSの耐圧と電流駆動能力のトレードオフ特性改善
• 高耐圧SOIデバイスの信頼性評価
• 高耐圧横型SOI-Pch.MOSFETの素子耐圧における基板バイアス依存性
• SOI高耐圧デバイスのスイッチング時に発生する基板電流の解析

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