釣谷 浩之 | 富山県工業技術センター:富山県立大学大学院

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概要

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関連著者

• 佐山 利彦

  富山工技セ

• 釣谷 浩之

  富山工技セ

• 釣谷 浩之

  富山県工業技術センター:富山県立大学大学院

• 佐山 利彦

  富山県工業技術センター

• 上杉 健太朗

  高輝度光科学研究セ

• 岡本 佳之

  コーセル(株)

• 高柳 毅

  コーセル(株)

• 森 孝男

  富山県立大学

• 森 孝男

  富山県立大学機械システム工学科

• 上杉 健太朗

  高輝度光科学研究センター

• 高柳 毅

  コーセル株式会社開発部

• 上杉 健太朗

  (財)高輝度光科学研究センター

• 上杉 健太朗

  高輝度光科学研

• 上杉 健太朗

  Spring-8 Jasri

• 高柳 毅

  コーセル

• 岡本 佳之

  コーセル

• 上杉 健太朗

  公益財団法人高輝度光科学研究センター(JASRI)

• 佐山 利彦

  富山県工業技術センター機械電子研究所

• 上杉 健太朗

  Jasri

• 釣谷 浩之

  富山県工業技術センター

• 上杉 健太郎

  Jasri

• 上杉 健太朗

  JASRI/SPring-8

• 上杉 健太朗

  高輝度光科学研究センター/SPring-8

• 釣谷 浩之

  富山工技

• 上杉 健太朗

  SPring-8

• 高柳 毅

  コーセル株式会社

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著作論文

• 放射光X線マイクロCTによるフリップチップはんだ接合部における熱疲労寿命の非破壊評価(電子機器の熱・機械信頼性と機械工学)
• 放射光X線マイクロCTによる3次元データを用いたフリップチップはんだ接合部のき裂進展過程の評価
• 1928 放射光X線CT装置を用いたフリップチップ接合部における熱疲労き裂進展過程の評価(J16-4 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価(4),J16 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
• 4323 放射光X線CTを用いたフリップチップ接合部における熱疲労による組織変化の評価(J05-2 接続信頼性,J05 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
• 放射光X線マイクロCTによるSn-Pbはんだ接合部における微細組織変化の観察
• J0601-5-5 チップ抵抗鉛フリーはんだ接合部の熱疲労き裂の放射光X線CTを応用した非破壊観察([J0601-5]電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(5))

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