中田 武志 | NECシステムデバイス研究所

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概要

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関連著者

• 中田 武志

  NECシステムデバイス研究所

• 牧田 紀久夫

  NECナノエレクトロニクス研究所

• 中田 武志

  NECナノエレクトロニクス研究所

• 牧田 紀久夫

  NECシステムデバイス研究所

• 牧田 紀久夫

  Nec ナノエレクトロニクス研

• 芝 和宏

  NEC 関西エレクトロニクス研究所

• 芝 和宏

  NECシステムデバイス研究所

• 芝 和宏

  NEC光デバイス事業部

• 芝和 宏

  Necナノエレクトロニクス研究所

• 笠原 健一

  立命館大学

• 清水 省吾

  立命館大学理工学部

• 笠原 健一

  立命館大学大学院理工学研究科

• 鳥飼 俊敬

  NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所

• 清水 省吾

  立命館大学大学院理工学研究科

• 鳥飼 俊敬

  Necシステムデバイス研究所

• 鳥飼 俊敬

  Necシステムデバイス・基礎研究本部

• 水木 恵美子

  NECナノエレクトロニクス研究所

• 竹内 剛

  Nec光無線デバイス研究所

• 竹内 剛

  Necシステムプラットフォーム研究所

• 竹内 剛

  Nec光・無線デバイス研究所

• 田島 章雄

  NECシステムプラットフォーム研究所

• 芝 和宏

  NECナノエレクトロニクス研究所

• 高橋 成五

  NECシステムプラットフォーム研究所

• 深津 公良

  NECシステムデバイス研究所

• 佐々木 達也

  NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所

• 佐々木 達也

  Necシステムデバイス研究所

• 佐々木 達也

  日本電気(株)システムデバイス・基礎研究本部

• 深津 公良

  日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所

• 渡邊 功

  Nec化合物デバイス(株)

• 遠藤 健司

  Nec化合物デバイス(株)

• 次田 拓実

  NEC システムデバイス研究所

• 正野 篤士

  NEC化合物デバイス(株)

• 井元 康雅

  NEC化合物デバイス(株)

• 渡辺 功

  NECシステムデバイス・基礎研究本部

• 富田 章久

  NEC基礎・環境研究所

• 水木 恵美子

  R&Dサポートセンター

• 次田 拓実

  R&Dサポートセンター

• 角野 雅芳

  NECシステムデバイス研究所

• 渡辺 さわき

  NECシステムデバイス研究所

• 水木 恵美子

  NECシステムデバイス研究所

• 佐々木 達也

  Nec 光・無線デバイス研

• 田島 章雄

  Nec システムプラットフォーム

• 富田 章久

  北海道大学

• 田島 章雄

  Nec

• 渡邉 さわき

  Necナノエレクトロニクス研究所

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著作論文

• 40Gbps通信用導波路型アバランシェフォトダイオード(超過高速伝送・変復調技術,超高速光・電子デバイス技術,広帯域WDMデバイス技術,受光デバイス,一般)
• 40Gbps通信用導波路型アバランシェフォトダイオード(超過高速伝送・変復調技術,超高速光・電子デバイス技術,広帯域WDMデバイス技術,受光デバイス,一般)
• 40Gbps通信用導波路型アバランシェフォトダイオード(超過高速伝送・変復調技術,超高速光・電子デバイス技術,広帯域WDMデバイス技術,受光デバイス,一般)
• C-4-37 10Gb/s小型光受信モジュール用高感度プレーナ型APD(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス)
• 導波路型構造を用いた低電圧・高速アバランシェ・フォトダイオード
• C-4-31 導波路型構造を用いた10Gbps低電圧動作高感度アバランシェ・フォトダイオード
• C-4-23 光インターコネクション用マルチモードファイバ対応PIN-PD(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
• C-4-16 高信頼メサ型InAlAsアバランシェフォトダイオード(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
• C-4-36 非対称ガイド層構造を用いた高感度10Gb/s導波路型アバランシェ・フォトダイオード(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス)
• B-10-44 量子暗号用APDのノイズキャリア発生率評価(B-10.光通信システムB(光通信),一般講演)

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