野間 淳史 | 松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

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関連著者

• 野間 淳史

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 野間 淳史

  松下電子工業株式会社電子総合研究所

• 大槻 達男

  松下電子工業(株)電子総合研究所第三研究部

• 上田 大助

  松下電子工業(株)半導体社半導体デバイス研究センター

• 上田 大助

  松下電子工業(株) 半導体社 半導体デバイス研究センタ 化合物半導体研究部

• 大槻 達男

  松下電子工業(株)半導体社半導体デバイス研究センター

• 嶋田 恭博

  松下電子工業株式会社 技術本部 電子総合研究所

• 平野 博茂

  パナソニック株式会社セミコンダクター社プロセス開発センター

• 平野 博茂

  松下電器産業株式会社

• 平野 博茂

  松下電子工業(株) 京都研究所

• 三河 巧

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 夏目 進也

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 長野 能久

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 伊東 豊二

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 久都内 知恵

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 立成 利貴

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 五寶 靖

  松下電器産業株式会社半導体社システムLSI開発本部

• 十代 勇治

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 藤井 英治

  松下電器産業株式会社半導体社プロセス開発センター

• 藤井 英治

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• 藤井 英治

  松下電子工業(株)電子総合研究所

• 嶋田 恭博

  松下電子工業(株)半導体社 半導体デバイス研究センター

• 五寶 靖

  松下電器産業株式会社 半導体社 システムlsi開発本部

• 野間 淳史

  松下電器産業株式会社

• 嶋田 泰博

  松下電子工業(株)半導体社半導体デバイス研究センター

• 藤井 英治

  松下電器産業 システムlsi開発本部

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著作論文

• 0.18umFeRAM混載システムLSI(新型不揮発性メモリー)
• 新エッジ構造によるBSTキャパシタの特性改善
• GaAsIC用BSTキャパシタの信頼性に及ぼす粒界の影響
• 強誘電体キャパシタにおける分極減衰・ヒステリシス歪曲の温度依存性
• 強誘電体キャパシタにおける分極減衰・ヒステリシス歪曲の温度依存性

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