成沢 忠 | 日本真空

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概要

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関連著者

• 成沢 忠

  日本真空

• 小宮 宗治

  日本真空技術(株)

• 平木 昭夫

  阪大工

• 小宮 宗治

  日本真空K.K.

• 岩見 基弘

  阪大工

• 小宮 宗治

  日本真空技研

• 成沢 忠

  日本真空技術KK

• 清水 昭

  阪大工

• 早川 和延

  東大物性研

• 佐竹 徹

  日本真空

• 八木 克道

  東工大理

• 本庄 五郎

  東工大理

• 小原 建治郎

  原研

• 阿部 哲也

  原研

• 田島 輝彦

  原研

• 五明 由夫

  東芝総研

• 林 主税

  日本真空

• 林 主税

  日本真空技術株式会社

• 大塚 英男

  原研

• 早川 和延

  日立中研

• 大塚 英男

  原研核融合

• 田島 輝彦

  原研核融合

• 三宅 静雄

  東大物性研

• 塚越 修

  日本真空技術(株)技術開発部

• 曽根 和穂

  原研

• 山田 礼司

  原研

• 水野 正保

  日本真空

• 松下 嘉明

  東工大理

• 成沢 忠

  日本真空K.K.

• 三宅 静雄

  日立中研

• 水野 正保

  日本真空技術(株)

• 成沢 忠

  日本眞空(株)

• 小宮 宗治

  日本眞空(株)

• 成沢 忠

  日本眞空技術(株)

• 小宮 宗治

  日本眞空技術(株)

• 山田 禮司

  原研

• 塚越 修

  日本真空技術(株)

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著作論文

• 6p-D-12 低エネルギープロトン(0.1〜6KeV)によるMo,Cのスパッタリング収率
• 5a-J-6 JFT-2放電洗浄効果のAES観察
• 4a-B-3 AESによる薄膜成長機構の研究
• Si(111)の7×7回折像の特徴 : X線・粒子線
• LEED及びLEESによる固体表面の研究 : 表面物理, 薄膜
• 6p-V-3 Si/貴金属界面での金属性Si(SIMS)
• 14a-P-10 Si-貴金属系に生じる金属性シリコンのAES(オージェ電子分光)
• AESによるSi結晶表面の化学分析
• 2次イオン質量分析法による固体表面の観察 (固体表面の新しい研究方法)
• 超高真空の生成と測定 (極限状態における計測と制御) -- (高真空)
• SIMS (表面微量分析の問題点(技術ノ-ト))
• 25a-G-3 AES法による半導体(基板)-金属(蒸着薄膜)系の界面構造観測
• 12a-R-10 Si(基板)-Au(膜)系での低温反応により生じる合金層のAuger 電子分光による観測

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