早川 和延 | 東大物性研
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概要
関連著者
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早川 和延
東大物性研
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三宅 静雄
日立中研
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三宅 静雄
東大物性研
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早川 和延
日立中研
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村田 好正
学習院大理
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大槻 義彦
東大工
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浦上 沢之
東大教養
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鈴木 邦夫
東大物性研
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小宮 宗治
日本真空技研
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小宮 宗治
日本真空技術(株)
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市原 正樹
東大物性研
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成沢 忠
日本真空
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大谷 俊介
学習院大理
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君島 文雄
日本真空技研
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三宅 静雄
学習院大理
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成沢 忠
日本真空技術KK
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東大物性研
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上智大理工
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慶光院 利映
学習院大理
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東京大学生産技術研究所
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金子 恭二郎
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大蔵 明光
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東大物性研
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梁 君達
日本真空技術
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大輪 清昇
日本真空技術
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大槻 義彦
東大工学部
著作論文
- 低速電子線回折とspin polarization : X線・粒子線
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定 : X線・粒子線
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定装置 : X線粒子線
- 5軸型低速電子回折計の試作 : X線粒子線
- 15a-H-4 低速電子廻折における散乱因子
- 15a-H-3 低速電子線回折におけるDebye温度のBethe potential効果
- 15a-H-2 数kV電子の結晶による回折I : 反射の半価巾
- 15a-H-1 1000eV程度の電子線を用いた回折装置の製作
- Si(111)の7×7回折像の特徴 : X線・粒子線
- LEED及びLEESによる固体表面の研究 : 表面物理, 薄膜
- 3a-TG-3 NiO単結晶による低エネルギー電子線の磁性回折
- 5a-G-3 低速電子回折に観察される菊池線・Diffuse Spotのエネルギー損失
- 15a-H-5 低速電子回折における菊池線
- 8p-N-9 鉄ウィスカーの電子顕微鏡による観察
- 3a-E-8 100〜500eV領域の電子線回折強度曲線の特徴
- 3a-TG-2 低エネルギー電子回折強度測定法
- 9p-N-2 低速及び高速電子線回折における共鳴回折現象
- 電子線回折強度の測定 : X線・粒子線
- 電子線回折強度の測定I : X線粒子線
- 15a-H-10 超高電圧における反射電子回折像の特徴等
- 7a-E-3 低速電子回折における菊地線とdiffuse pattern
- 6a-E-10 電子線の回折条件に伴うX線放射強度の異常
- 低速電子線回折の進歩
- 低速電子回折の一般的性質 : X線粒子線シンポジウム
- 結晶による低速電子回折の性質 : 粒子線・X線
- 低速電子回折装置の製作 : 粒子線・X線
- 低エネルギー電子回折による結晶表面の研究
- 4p-A-2 低速電子回折における菊池パターン
- 3p-TD-8 金属ウイスカー発機構の電子顕微鏡による観察
- 高分解能電子エネルギー分析法の吸着研究への応用 : 表面物理, 薄膜
- Auger電子による吸収物の同定 : 表面物理, 薄膜
- 中速・低速電子回折