15a-H-5 低速電子回折における菊池線
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 1967-10-14
著者
関連論文
- もし自分が大学院学生であったなら
- 日本で国際会議を開催する意義とその成果をめぐつて
- 低速電子線回折とspin polarization : X線・粒子線
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定 : X線・粒子線
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定装置 : X線粒子線
- 5軸型低速電子回折計の試作 : X線粒子線
- 15a-H-4 低速電子廻折における散乱因子
- 15a-H-3 低速電子線回折におけるDebye温度のBethe potential効果
- 15a-H-2 数kV電子の結晶による回折I : 反射の半価巾
- 15a-H-1 1000eV程度の電子線を用いた回折装置の製作
- 第9回国際結晶学会議
- Si(111)の7×7回折像の特徴 : X線・粒子線
- LEED及びLEESによる固体表面の研究 : 表面物理, 薄膜
- 2p-G-12 AgKα_2だけを用いたコンプトン散乱
- 12a-H-7 ニッケルの原子散乱因子の絶対測定
- 30p-W-6 低エネルギー電子の交換散乱・回折と NiO の磁区構造
- 6p-D-2 反強磁性体NiO結晶のLEEDによる研究
- 3a-TG-3 NiO単結晶による低エネルギー電子線の磁性回折
- 5a-G-3 低速電子回折に観察される菊池線・Diffuse Spotのエネルギー損失
- 15a-H-5 低速電子回折における菊池線
- 6a-E-2 SiC結晶におけるSiとCのX線原子散乱因子の測定
- MgO等のイオン結晶の原子散乱因子について(X線)
- 8p-N-9 鉄ウィスカーの電子顕微鏡による観察
- VNのX線原子散乱因子の測定 : X線粒子線
- 24a-N-6 LEED回折強度測定とその解釈
- 24a-N-2 反射回折(RHEED)における菊池像
- 3a-E-8 100〜500eV領域の電子線回折強度曲線の特徴
- 3a-TG-2 低エネルギー電子回折強度測定法
- 第8回国際結晶学連合学会に出席して
- 9p-N-3 NiO単結晶可劈開面による低速電子線の回折
- 9p-N-2 低速及び高速電子線回折における共鳴回折現象
- 電子線回折強度の測定 : X線・粒子線
- 電子線回折強度の測定I : X線粒子線
- Si, AlのCompton散乱 : X線粒子線
- 300KV電子回折装置の製作 : X. 電子線・X線
- 15a-H-10 超高電圧における反射電子回折像の特徴等
- 7a-E-3 低速電子回折における菊地線とdiffuse pattern
- 6a-E-10 電子線の回折条件に伴うX線放射強度の異常
- 低速電子線回折の進歩
- 低速電子回折の一般的性質 : X線粒子線シンポジウム
- 金属薄膜による電子線吸収と回折強度の測定 : X線・粒子線
- X線, 電子線, 中性子線 (昭和40年度における各専門分野研究活動の展望)
- 結晶による低速電子回折の性質 : 粒子線・X線
- 低速電子回折装置の製作 : 粒子線・X線
- 8p-K-5 電子線散乱の強度測定とその解析
- これからの結晶学 : その教育問題
- 蒸着金属膜生長の電子回折法による観察: 薄膜の結晶生長シンポジウム
- 金属蒸着膜に対する電子線の透過能の測定(電子線)
- CuAu II型規則格子の電子回折像に於けるsatellitesの強度の波長依存性(電子線)
- 8a-K-8 MgOのV_の測定
- 低エネルギー電子回折による結晶表面の研究
- 4p-A-2 低速電子回折における菊池パターン
- 3p-TD-8 金属ウイスカー発機構の電子顕微鏡による観察
- X線強度精密測定の意義と現状
- 第7回国際結晶会議の印象
- 6a-E-3 鉄の原子散乱因子の絶対測定
- CuのX線原子散乱因子の再測定 : X線・粒子線
- 高分解能電子エネルギー分析法の吸着研究への応用 : 表面物理, 薄膜
- Auger電子による吸収物の同定 : 表面物理, 薄膜
- 中速・低速電子回折
- タイトル無し
- タイトル無し