8a-K-8 MgOのV_<220>の測定
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 1962-04-04
著者
関連論文
- 15a-A-13 Al-Co-Ni正10角形準結晶における秩序-無秩序変態
- 28aYC-8 正10角形準結晶中フェイゾン歪の緩和過程の高分解能電顕観察(準結晶(構造・相安定性))(領域6)
- 20pXA-9 Mo 中らせん転位芯構造の高分解能電子顕微鏡観察
- 22aTK-8 近似結晶-準結晶相転移の高分解能電顕観察
- 31aYG-5 bcc 金属中らせん転位芯構造の HRTEM 像
- 31pZC-1 Cd 系近似結晶の構造相転移 II
- 17pTK-4 正10角形準結晶中フェイゾンの熱ゆらぎの高分解能電顕観察
- 27a-T-5 GaN中の転位と積層欠陥
- 29a-E-13 SnSb単結晶の塑性I
- 1a-M-2 4配位結晶の積層欠陥エネルギー
- 28p-N-6 電子顕微鏡によるSi中の転位の観察
- 25p-Q-2 高分解能電子顕微鏡によるSiの転位芯の観察
- Al-Co-Ni正10角形相の原子構造
- 2p-F-1 Si結晶中の拡張転位の格子像観察
- 30p-SG-4 化合物結晶中の転位の格子像観察
- 27pYC-11 4面体結合性アモルファスカーボンの電子線誘起結晶化
- 27aYC-6 電子線照射下で起こるZnO結晶中の振動的転位運動
- 28p-ZA-6 h-GaN結晶における電子励起転位すべり効果
- III. 半導体, セラミックスの欠陥構造 半導体中の転位運動素過程の原子レベル直接観察
- 29a-E-6 Plan-view HREM法による転位線の原子像観察の分解能
- InPの高圧下における塑性変形
- すべり面垂直入射HREM観察で調べた半導体中の転位運動素過程
- 30p-N-6 GaAs中の部分転位像の形状変化-高分解能電子顕微鏡その場観察
- 31p-F-4 Al-Ni-Co規則型正10角形の分域構造
- 2a-YC-8 Al-Ni-Co正10角形準結晶における観測-不規則変態(II)
- 12a-DK-11 半導体結晶中の転位の拡張、非拡張
- 27p-T-4 凖結晶の近似結晶
- 27a-T-5 Al-Co-Ni正10角形相の規則構造
- 28p-K-7 格子欠陥の格子像観察と像シミュレーション
- 26a-A-8 Al-Co-Ni正10角形相とその近似結晶相の構造
- 3a-Z-11 気相合成ダイヤモンド中の格子欠陥の電子顕微鏡観察
- もし自分が大学院学生であったなら
- 日本で国際会議を開催する意義とその成果をめぐつて
- 12a-E-13 SbCl_5-グラファイト層間化合物の電子線回折
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定 : X線・粒子線
- 中低速電子の結晶によるエネルギー損失の測定装置 : X線粒子線
- 5軸型低速電子回折計の試作 : X線粒子線
- 2p-C-1 II-VI族化合物半導体中の転位の電顕観察
- 28a-J-3 II-VI族化合物半導体中の転位の運動
- 3a GJ-10 CdTe単結晶中の転位運動の直接観察
- Si(111)の7×7回折像の特徴 : X線・粒子線
- 2p-G-12 AgKα_2だけを用いたコンプトン散乱
- 30p-W-6 低エネルギー電子の交換散乱・回折と NiO の磁区構造
- 6p-D-2 反強磁性体NiO結晶のLEEDによる研究
- 3a-TG-3 NiO単結晶による低エネルギー電子線の磁性回折
- マグネタイトの低温変態点以下の電子顕微鏡観察 : 磁性 : 酸化物
- 3a-A3-5 Nb_3Te_4結晶中の格子欠陥の高分解能観察
- シロサケにおける伝染性造血器壊死症ウイルス(IHNV)M遺伝子RNAと相同のDNA型の存在
- 3a-X-5 SnO_2双晶ウィスカー
- 14p-L-3 II-VI化合物の積層欠陥エネルギー
- 5a-NJ-4 HVEMによるII-VI化合物の電子線照射損傷
- 2a-G-1 電子照射したCdS, ZnO中の転位ループ
- 3p-P-10 II-VI化合物のHVEMによる照射損傷
- 31a GH-4 II-VI化合物のHVEMによる照射損傷
- 5a-G-3 低速電子回折に観察される菊池線・Diffuse Spotのエネルギー損失
- 15a-H-5 低速電子回折における菊池線
- 6a-E-2 SiC結晶におけるSiとCのX線原子散乱因子の測定
- MgO等のイオン結晶の原子散乱因子について(X線)
- 8p-N-9 鉄ウィスカーの電子顕微鏡による観察
- 3a-E-8 100〜500eV領域の電子線回折強度曲線の特徴
- 3a-TG-2 低エネルギー電子回折強度測定法
- 第8回国際結晶学連合学会に出席して
- 9p-N-3 NiO単結晶可劈開面による低速電子線の回折
- 9p-N-2 低速及び高速電子線回折における共鳴回折現象
- 電子線回折強度の測定 : X線・粒子線
- 電子線回折強度の測定I : X線粒子線
- Si, AlのCompton散乱 : X線粒子線
- ZnSから成長したZnO結晶中の転位と結晶成長機構 : ひげ結晶
- 5p-O-3 フタロシアニンの電顕格子像に関する一考察
- MgOのVnの電子線エネルギーによる変化 : X線・粒子線
- 単結晶状蒸着膜による電子回折像の強度測定 : X線電子線
- 5a-DQ-1 HVEMによるZnO結晶の照射損傷
- 5p-M-3 ZnO結晶のPrismatic fault plane上の転位ループ形成
- 7a-Q-3 ZnO結晶に於ける転位の運動
- 5p-M-11 ZnO結晶中の積層欠陥の透過電顕観察
- 300KV電子回折装置の製作 : X. 電子線・X線
- 15a-H-10 超高電圧における反射電子回折像の特徴等
- 7a-E-3 低速電子回折における菊地線とdiffuse pattern
- 6a-E-10 電子線の回折条件に伴うX線放射強度の異常
- 低速電子線回折の進歩
- 低速電子回折の一般的性質 : X線粒子線シンポジウム
- 金属薄膜による電子線吸収と回折強度の測定 : X線・粒子線
- X線, 電子線, 中性子線 (昭和40年度における各専門分野研究活動の展望)
- 結晶による低速電子回折の性質 : 粒子線・X線
- 低速電子回折装置の製作 : 粒子線・X線
- 8p-K-5 電子線散乱の強度測定とその解析
- これからの結晶学 : その教育問題
- 蒸着金属膜生長の電子回折法による観察: 薄膜の結晶生長シンポジウム
- 金属蒸着膜に対する電子線の透過能の測定(電子線)
- 8a-K-8 MgOのV_の測定
- 4p-A-3 反射電子回折法による顕微像の形成
- 3p-TD-8 金属ウイスカー発機構の電子顕微鏡による観察
- X線強度精密測定の意義と現状
- 第7回国際結晶会議の印象
- 7a-X-1 マグネタイト転移点近傍での格子振動
- 30a-M-6 Magnetite の低温結晶構造
- 3a-U-2 Fe_3O_4低温変態点近傍での電子回折
- タイトル無し
- タイトル無し
- 28p-T-9 SI結晶中転位の逆位相欠陥の直接観察の可能性(28pT 格子欠陥)