山口 賢一 | 奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科;(現)奈良工業高等専門学校情報工学科

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概要

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関連著者

• 山口 賢一

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科;(現)奈良工業高等専門学校情報工学科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 山口 賢一

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

• 井上 美智子

  奈良先端科学技術大学院大学

• 和田 弘樹

  株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部

• 和田 弘樹

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 井上 美智子

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構crest

• 増澤 利光

  大阪大学大学院情報科学研究科

• 井上 美智子

  奈良先端科学技大学院大学

• 井上 美智子

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

著作論文

• レジスタ転送レベルデータパスの単一制御並行可検査性に基づく組込み自己テスト法
• レジスタ転送レベルデータパスの単一制御並行可検査性に基づく組込み自己テストについて
• レジスタ転送レベルデータパスの単一制御並行可検査性に基づく組込み自己テストについて
• レジスタ転送レベルデータパスの単一制御並行可検査性に基づく組込み自己テストについて
• 階層BIST : 低いオーバヘッドを実現するTest-per-clock方式BIST(フォールトトレランス)
• 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST
• 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST
• 階層BIST : 低オーバヘッドを実現するTest-per-clock BIST

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