笠原 健資 | Necシステムデバイス研究所
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概要
関連著者
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松永 高治
財団法人新機能素子研究開発協会:日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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笠原 健資
Necシステムデバイス研究所
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村瀬 康裕
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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山之口 勝己
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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松永 高治
NEC光・無線デバイス研究所
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笠原 健資
NEC光・無線デバイス研究所
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山之口 勝己
NEC光・無線デバイス研究所
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村瀬 康裕
NEC光・無線デバイス研究所
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松永 高治
NECシステムデバイス研究所
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笠原 健資
NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所
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山之口 勝己
NECシステムデバイス研究所
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村瀬 康裕
NECシステムデバイス研究所
著作論文
- 酸化膜埋め込み0.2μmゲートプロセスによる準ミリ波帯高出力GaAsFET(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- 高歩留まり短ゲートプロセスによるK帯高出力MMIC(化合物半導体デバイスのプロセス技術)
- C-2-38 0.7W 低歪 38GHz 帯電力増幅器 MMIC