EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査技術の開発 (LSIの評価・解析技術特集) -- (信頼性評価技術)

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概要

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• 日本電気の論文

著者

• 板垣 洋輔

  NEC デバイス評価技術研究所

• 久住 肇

  日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部

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