EOセンサによる非接触QFP半田接続検査技術の開発

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概要

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• 1996-09-01

著者

• 久住 肇

  日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部

• 與島 政幸

  日本電気(株)評価技術開発本部

• 與島 政幸

  NEC(株)材料部品分析評価センター

• 久住 肇

  NEC(株)材料部品分析評価センター

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