久住 肇 | 日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部

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概要

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• 同名の論文著者
• 日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部の論文著者

関連著者

• 久住 肇

  日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部

• 與島 政幸

  日本電気(株)評価技術開発本部

• 西山 毅

  日本電気(株)光ネットワーク事業本部 アクセス事業部

• 板垣 洋輔

  NEC デバイス評価技術研究所

• 與島 政幸

  NEC(株)材料部品分析評価センター

• 久住 肇

  NEC(株)材料部品分析評価センター

著作論文

• EOプローブを用いた非接触LSIパッケージはんだ接続検査手法の開発
• EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査装置の開発
• EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査技術の開発 (LSIの評価・解析技術特集) -- (信頼性評価技術)
• EOセンサによる非接触QFP半田接続検査技術の開発

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