EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査装置の開発

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 1998-09-01

著者

• 西山 毅

  日本電気(株)光ネットワーク事業本部 アクセス事業部

• 久住 肇

  日本電気(株)システムlsi事業本部 第二システムlsi事業部

• 與島 政幸

  日本電気(株)評価技術開発本部

関連論文

• EOプローブを用いた非接触LSIパッケージはんだ接続検査手法の開発
• EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査装置の開発
• EOセンサによる非接触QFPはんだ接続検査技術の開発 (LSIの評価・解析技術特集) -- (信頼性評価技術)
• EOセンサによる非接触QFP半田接続検査技術の開発

スポンサーリンク