E-OプローブによるQFP半田接続の非接触検査 (MES'97(第7回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集))

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概要

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• エレクトロニクス実装学会の論文
• 1997-10-20

著者

• 板垣 洋輔

  NEC デバイス評価技術研究所

• 久住 肇

  NEC, デバイス分析評価技術センター

• 久住 肇

  Nec デバイス分析評価技術センター

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