久住 肇 | Nec デバイス分析評価技術センター

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概要

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関連著者

• 板垣 洋輔

  NEC デバイス評価技術研究所

• 久住 肇

  NEC, デバイス分析評価技術センター

• 久住 肇

  Nec デバイス分析評価技術センター

• 佐藤 正春

  (株)村田製作所

• 佐藤 正春

  日本電気株式会社基礎・環境研究所

• 佐藤 正春

  日本電気(株)機能エレクトロニクス研究所

• 佐藤 正春

  NEC機能材料研究所

• 板垣 洋輔

  NECデバイス評価技術研究所

• 久住 肇

  NECデバイス評価技術研究所

• 板垣 洋輔

  NEC, デバイス分析評価技術センター

• 佐藤 正春

  NEC, 機能エレクトロニクス研究所

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著作論文

• 導電性ポリピロールを用いた高密度基板検査プローブ
• 導電性高分子を用いた高密度基板検査プローブの開発
• E-OプローブによるQFP半田接続の非接触検査 (MES'97(第7回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集))

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