信号と雑音の発生メカニズム--カオス/フラクタル理論が重要になってくる (特集 科学技術分野における計測技術の基礎--技術者のための科学計測入門)

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概要

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著者

• 河田 聡

  大阪大学

• 笹木 敬司

  北大電子研

• 河田 聡

  阪大工:crest:理研

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