23pRH-14 高精度評価系による、光制御ノットゲートのエラー解析(量子エレクトロニクス(量子光学),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2007-08-21
著者
-
永田 智久
北大電子研
-
岡本 亮
北大電子研
-
Hofmann Holger
広大院先端
-
竹内 繁樹
北大電子研
-
笹木 敬司
北大電子研
-
岡本 亮
北大電子研:阪大産研:阪大基礎工
-
永田 智久
北大電子研:阪大産研
-
竹内 繁樹
北大電子研:阪大産研
-
ホフマン ホルガ
広大院先端:jst-さきがけ
-
笹木 敬司
北海道大学電子科学研究所
-
Sasaki K
Advanced Technology R&d Center Mitsubishi Electric Corporation
-
Sasaki K
Department Of Electrical And Computer Engineering Kanazawa University
-
Sasaki Kimihiro
Graduate School Of Natural Science And Technology Kanazawa University
-
Sasaki Koichi
Department Of Electronics Nagoya University
-
Sasaki Koh
Institute For Materials Research Tohoku University
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